Por: Newton C. Braga

No volume anterior ensinamos como testar componentes passivos. No entanto, eles não são os únicos que os profissionais, estudantes e praticantes da eletrônica em geral vão encontrar na sua atividade. Além deles, existem muitos outros tipos de componentes dentre os quais destacamos a enorme família dos componentes semicondutores. Nela encontramos componentes como transistores, diodos, SCRs, foto-transistores, triacs e muitos outros.

Esses dispositivos semicondutores são os elementos básicos de todos os equipamentos eletrônicos modernos. Indo dos mais simples que são os diodos, chegamos aos circuitos integrados, alguns dos quais contando com milhões de componentes internos.

O teste de tais componentes ou mesmo circuitos oferece um enorme desafio ao profissional da eletrônica.

Em alguns casos procedimentos muitos simples podem revelar muito sobre o estado de tais componentes. No entanto, existem casos, em que os dispositivos testados são tão complexos que se torna impossível dizer alguma coisa sobre seu estado com um teste simples.

Para esses casos pode-se utilizar procedimentos que envolvam a montagem de circuitos de simulação ou ainda a realização de diversas medidas, que possam dar um quadro geral do que ocorre com o dispositivo. Indo além, podemos contar com a ajuda do osciloscópio para levantar as curvas características de tais componentes em que, muito além de um simples teste, teremos informações importantes sobre seu estado e o modo de usá-lo.

Neste volume focalizaremos os principais testes que podem ser realizados com esses componentes semicondutores usando desde simples provador de continuidade ou multímetro até recursos mais elaborados que envolvam o uso de instrumentos sofisticados como geradores de funções, osciloscópios e outros.